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Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling

A Festschrift for Peter Heymann

Autor(en):

Göttingen, 04. Januar 2005
Seiten: 130
Auflage: 1
Band: 3
Sprache:
ISBN-10: 3865373283
ISBN-13: 9783865373281

Zugeordnete Fachbereiche:

Maschinenbau-und Verfahrenstechnik

Bezugsmöglichkeiten

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